Verfahren und Apparat zur Messung einer optischen Transfercharakteristik
EP1018642
Art A3
5. September 2001
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION, KDD Corporation, Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1018642
- Aktenzeichen
- EP00100088
- Anmeldetag
- 6. Januar 2000
- Veröffentlichung
- 5. September 2001
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01M11/00H04B10/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ADVANTEST CORPORATION
KDD Corporation
Advantest Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
610 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Hoffmann, Eckart, Dipl.-Ing
Gräfelfing, Deutschland
933
Patente gesamt
27
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
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MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann Patentanwälte PartG mbB
MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann Patentanwälte PartG mbB · München
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MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann
MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann · München