Kompensierter Parallel-Strahlteiler mit zwei Platten sowie Interferometer

EP1031868 Art B1 14. Mai 2003

Anmelder: Dr. Johannes Heidenhain GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1031868
Aktenzeichen: EP00102274
Anmeldetag: 17. Februar 2000
Veröffentlichung: 14. Mai 2003
Erteilung: 14. Mai 2003
Rechtsraum: EP
IPC: G02B27/10G01B9/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Dr. Johannes Heidenhain GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Dr. Johannes Heidenhain

Deutscher Hersteller von Mess- und Steuerungstechnik, darunter Längen- und Winkelmessgeräte, Drehgeber sowie CNC-Steuerungen für Werkzeugmaschinen und Präzisionsfertigung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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