Testsondenkarte und Testverfahren für eine Halbleitervorrichtung
EP1045438
Art B8
25. März 2009
Anmelder: Fujitsu Microelectronics Limited, FUJITSU LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1045438
- Aktenzeichen
- EP00107939
- Anmeldetag
- 14. April 2000
- Veröffentlichung
- 25. März 2009
- Erteilung
- 25. März 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66G01R1/073G01R1/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Fujitsu Microelectronics Limited
FUJITSU LIMITED - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
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Vertreten von
Sunderland, James Harry
München, Deutschland
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