Prüfmustererzeugungseinrichtung und Verfahren für Schaltungsblöcke
EP1059584
Art A3
7. Februar 2001
Anmelder: NEC Electronics Corporation, NEC CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1059584
- Aktenzeichen
- EP00111717
- Anmeldetag
- 31. Mai 2000
- Veröffentlichung
- 7. Februar 2001
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/263G01R31/3183G11C29/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NEC Electronics Corporation
NEC CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
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Vertreten von
-
Betten & Resch
Betten & Resch · München