Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung von Mustern
EP1061360
Art A3
21. August 2002
Anmelder: NEC Corporation, NEC CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1061360
- Aktenzeichen
- EP00112910
- Anmeldetag
- 19. Juni 2000
- Veröffentlichung
- 21. August 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/956
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NEC Corporation
NEC CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
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Fachgebiete
Vertreten von
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Betten & Resch
Betten & Resch · München