Halbleitervorrichtung mit Makros und Prüfverfahren dafür

EP1061375 Art B1 22. Februar 2006

Anmelder: NEC Electronics Corporation, NEC CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1061375
Aktenzeichen: EP00112084
Anmeldetag: 5. Juni 2000
Veröffentlichung: 22. Februar 2006
Erteilung: 22. Februar 2006
Rechtsraum: EP
IPC: G01R31/3185

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: NEC Electronics Corporation
NEC CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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