Verfahren und Vorrichtung zur Überdeckungsmessung
EP1061417
Art A3
19. Mai 2004
Anmelder: Infineon Technologies AG, International Business Machines Corporation 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1061417
- Aktenzeichen
- EP00112776
- Anmeldetag
- 16. Juni 2000
- Veröffentlichung
- 19. Mai 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F7/20G03F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Infineon Technologies AG
International Business Machines Corporation - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
4.872 Patente in unserer Datenbank
🇺🇸
IBM
US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Armonk, New York. International Business Machines entwickelt Hardware, Software, Cloud-Dienste sowie Lösungen für künstliche Intelligenz, Halbleiter und Unternehmens-IT.
9.753 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Chamberlain, Alan James
Bristol, Großbritannien
664
Patente gesamt
27
Fachgebiete
20
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Vigars, Christopher Ian
NoneLondon