Raster-Ladungsträgerstrahlgerät und Verfahren zur Beobachtung von Probenbildern mittels einem solchen Gerät
EP1061551
Art B1
17. November 2004
Anmelder: JEOL LTD., Jeol Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1061551
- Aktenzeichen
- EP00305000
- Anmeldetag
- 13. Juni 2000
- Veröffentlichung
- 17. November 2004
- Erteilung
- 17. November 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JEOL LTD.
Jeol Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
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Fachgebiete
Vertreten von
Cross, Rupert Edward Blount
London, Großbritannien
2.091
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Fachgebiete
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