Sondenkarte und Verfahren zur Prüfung einer Halbleiterscheibe mit einer Vielzahl von Halbleitervorrichtungen
EP1077381
Art B1
3. Juni 2009
Anmelder: Fujitsu Microelectronics Limited, FUJITSU LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1077381
- Aktenzeichen
- EP00114105
- Anmeldetag
- 10. Juli 2000
- Veröffentlichung
- 3. Juni 2009
- Erteilung
- 3. Juni 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R1/073G01R31/316
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Fujitsu Microelectronics Limited
FUJITSU LIMITED - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
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Sunderland, James Harry
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