Gerät und Verfahren zur Messung von Bitfehlern
EP1091518
Art A3
26. Juni 2002
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION, Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1091518
- Aktenzeichen
- EP00121289
- Anmeldetag
- 6. Oktober 2000
- Veröffentlichung
- 26. Juni 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04L1/24H04L1/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ADVANTEST CORPORATION
Advantest Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
610 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Hoffmann, Eckart, Dipl.-Ing
Gräfelfing, Deutschland
933
Patente gesamt
27
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
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MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann Patentanwälte PartG mbB
MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann Patentanwälte PartG mbB · München
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MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann
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