Thermisches Analysegerät

EP1111376 Art A3 6. März 2002

Anmelder: Seiko Instruments Inc. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1111376
Aktenzeichen
EP00311137
Anmeldetag
13. Dezember 2000
Veröffentlichung
6. März 2002
Rechtsraum
EP
IPC
G01N25/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Seiko Instruments Inc.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Seiko Instruments

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiba, tätig in den Bereichen Präzisionsinstrumente, Uhren und elektronische Bauteile.

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