Optische Nahfeldsonde und optisches Scanning-Nahfeld-Mikroskop
EP1111426
Art B1
20. Juni 2007
Anmelder: Seiko Instruments Inc., SEIKO INSTRUMENTS INC. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1111426
- Aktenzeichen
- EP00311436
- Anmeldetag
- 20. Dezember 2000
- Veröffentlichung
- 20. Juni 2007
- Erteilung
- 20. Juni 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G12B21/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Seiko Instruments Inc.
SEIKO INSTRUMENTS INC. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Seiko Instruments
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiba, tätig in den Bereichen Präzisionsinstrumente, Uhren und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
Sturt, Clifford Mark
London, Großbritannien
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