Logische eingebaute Selbstprüfung (LBIST) Steuerschaltungen, Systeme und Verfahren mit automatischer Bestimmung der maximalen Abtastkettenlänge
EP1113279
Art B1
1. Februar 2006
Anmelder: Texas Instruments Incorporated, TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1113279
- Aktenzeichen
- EP00125266
- Anmeldetag
- 24. November 2000
- Veröffentlichung
- 1. Februar 2006
- Erteilung
- 1. Februar 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Texas Instruments Incorporated
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
3.600 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Degwert, Hartmut
München, Deutschland
318
Patente gesamt
24
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Schwepfinger, Karl-Heinz, Dipl.-Ing
NoneMünchen