Anordnung zum Testen einer Vielzahl von Halbleiterchips
EP1113282
Art A2
4. Juli 2001
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1113282
- Aktenzeichen
- EP00126891
- Anmeldetag
- 7. Dezember 2000
- Veröffentlichung
- 4. Juli 2001
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3193
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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