Bildbeobachtungsverfahren und Rasterelektronenmikroskop
EP1128413
Art A1
29. August 2001
Anmelder: JEOL LTD., Jeol Technics Ltd., Jeol Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1128413
- Aktenzeichen
- EP01301386
- Anmeldetag
- 16. Februar 2001
- Veröffentlichung
- 29. August 2001
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/28H01J37/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JEOL LTD.
Jeol Technics Ltd.
Jeol Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
520 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Cross, Rupert Edward Blount
London, Großbritannien
2.091
Patente gesamt
33
Fachgebiete
17
Anmelder-Länder
Schwerpunkte