Optisches System mit gleichzeitiger Detektierung eines Kalibrierungssignals und eines Testsignals in einem optischen Spektrumanalysator
EP1130445
Art A3
4. September 2002
Anmelder: TEKTRONIX, INC., Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1130445
- Aktenzeichen
- EP01301318
- Anmeldetag
- 15. Februar 2001
- Veröffentlichung
- 4. September 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B26/02G01J3/18
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TEKTRONIX, INC.
Tektronix, Inc. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Molyneaux, Martyn William
London, Großbritannien
505
Patente gesamt
30
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19
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