Kontaktor mit Kontaktelement auf der LSI-Schaltungsseite, Kontaktelement auf der Testplattinenseite zum Testen von Halbleitergeräten und Hestellungsverfahren dafür

EP1136827 Art B1 25. Juli 2007

Anmelder: FUJITSU LIMITED 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1136827
Aktenzeichen
EP00311458
Anmeldetag
20. Dezember 2000
Veröffentlichung
25. Juli 2007
Erteilung
25. Juli 2007
Rechtsraum
EP
IPC
G01R1/067
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
FUJITSU LIMITED
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Fujitsu

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