Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Daten
EP1139603
Art A1
4. Oktober 2001
Anmelder: Tektronix Berlin GmbH & Co. KG, Tektronix, Inc. 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1139603
- Aktenzeichen
- EP00106565
- Anmeldetag
- 27. März 2000
- Veröffentlichung
- 4. Oktober 2001
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04L12/24G06F17/30H04L12/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tektronix Berlin GmbH & Co. KG
Tektronix, Inc. - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Schurack, Eduard F
München, Deutschland
299
Patente gesamt
31
Fachgebiete
13
Anmelder-Länder
Schwerpunkte