Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Daten
EP1146690
Art B1
21. Juni 2006
Anmelder: Tektronix Berlin GmbH & Co. KG, Tektronix, Inc. 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1146690
- Aktenzeichen
- EP00108276
- Anmeldetag
- 14. April 2000
- Veröffentlichung
- 21. Juni 2006
- Erteilung
- 21. Juni 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04L12/26H04L29/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tektronix Berlin GmbH & Co. KG
Tektronix, Inc. - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Schurack, Eduard F
München, Deutschland
299
Patente gesamt
31
Fachgebiete
13
Anmelder-Länder
Schwerpunkte