Analysegerät
EP1150102
Art B1
27. September 2006
Anmelder: SII NanoTechnology Inc., Seiko Instruments Inc. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1150102
- Aktenzeichen
- EP01303710
- Anmeldetag
- 24. April 2001
- Veröffentlichung
- 27. September 2006
- Erteilung
- 27. September 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01D9/00G06F17/40
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- SII NanoTechnology Inc.
Seiko Instruments Inc. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Seiko Instruments
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiba, tätig in den Bereichen Präzisionsinstrumente, Uhren und elektronische Bauteile.
865 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Sturt, Clifford Mark
London, Großbritannien
883
Patente gesamt
28
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte