Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Parametern eines Elektroniksystems, beispielsweise MTIE
EP1152562
Art A1
7. November 2001
Anmelder: Agilent Technologies, Inc., Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1152562
- Aktenzeichen
- EP00303669
- Anmeldetag
- 2. Mai 2000
- Veröffentlichung
- 7. November 2001
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04L1/20H04L1/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Agilent Technologies, Inc.
Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Agilent Technologies
US-amerikanischer Hersteller von Analysegeräten, Labortechnik und Diagnostiklösungen, 1999 als Ausgründung von Hewlett Packard entstanden. Schwerpunkte sind Chromatographie, Massenspektrometrie und Life-Science-Instrumente.
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Kurz, Peter
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