Verfahren zur Darstellung von Signalqualitätmessung
EP1152563
Art B1
12. Mai 2010
Anmelder: TEKTRONIX, INC., Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1152563
- Aktenzeichen
- EP01302234
- Anmeldetag
- 12. März 2001
- Veröffentlichung
- 12. Mai 2010
- Erteilung
- 12. Mai 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04L1/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TEKTRONIX, INC.
Tektronix, Inc. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Want, Clifford James
London, Großbritannien
333
Patente gesamt
31
Fachgebiete
17
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
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Harrison Goddard Foote
Harrison Goddard Foote · Leeds
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Molyneaux, Martyn William
NoneLondon