Vorrichtung und Verfahren zum objektiven Messen von optischen Systemen mittels Wellenfrontanalyse
EP1153570
Art B1
14. Juli 2004
Anmelder: Alcon, Inc., Alcon, Inc, Alcon Universal, Ltd. 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1153570
- Aktenzeichen
- EP01201252
- Anmeldetag
- 5. April 2001
- Veröffentlichung
- 14. Juli 2004
- Erteilung
- 14. Juli 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61B3/103A61B3/04G01J9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Alcon, Inc.
Alcon, Inc
Alcon Universal, Ltd. - Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
Alcon
Schweizer Unternehmen der Augenheilkunde, das Produkte für Augenchirurgie, Kontaktlinsen und Pflegemittel entwickelt, darunter Linsenimplantate, chirurgische Geräte und Lösungen zur Augenpflege.
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