Schaltungsanordnung zur Detektion einer äusseren Einwirkung auf einen Halbleiterchip
EP1154375
Art A1
14. November 2001
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1154375
- Aktenzeichen
- EP00109978
- Anmeldetag
- 11. Mai 2000
- Veröffentlichung
- 14. November 2001
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06K19/073G06F1/00G11C5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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Vertreten von
Fischer, Volker
München, Deutschland
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