Verringerung der Einflüsse von Vergrösserungs- und Retikelrotationsfehlern auf Überdeckungsfehler
EP1161707
Art A1
12. Dezember 2001
Anmelder: ADVANCED MICRO DEVICES, INC., ADVANCED MICRO DEVICES INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1161707
- Aktenzeichen
- EP00914578
- Anmeldetag
- 11. Februar 2000
- Veröffentlichung
- 12. Dezember 2001
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ADVANCED MICRO DEVICES, INC.
ADVANCED MICRO DEVICES INC. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Advanced Micro Devices
US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.
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Fachgebiete
Vertreten von
Picker, Madeline Margaret
London, Großbritannien
951
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12
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