Probeninspektionsgerät
EP1162645
Art A3
26. September 2007
Anmelder: JEOL LTD., Jeol Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1162645
- Aktenzeichen
- EP01304938
- Anmeldetag
- 6. Juni 2001
- Veröffentlichung
- 26. September 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/28H01J37/20G01R31/265G01R31/305G01R31/307
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JEOL LTD.
Jeol Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
520 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Cross, Rupert Edward Blount
London, Großbritannien
2.091
Patente gesamt
33
Fachgebiete
17
Anmelder-Länder
Schwerpunkte