System zur Analyse
EP1168122
Art B1
9. Mai 2007
Anmelder: SII NanoTechnology Inc., Seiko Instruments Inc. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1168122
- Aktenzeichen
- EP01305581
- Anmeldetag
- 27. Juni 2001
- Veröffentlichung
- 9. Mai 2007
- Erteilung
- 9. Mai 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G05B19/042G01N30/88G01N30/86G06F19/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- SII NanoTechnology Inc.
Seiko Instruments Inc. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Seiko Instruments
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiba, tätig in den Bereichen Präzisionsinstrumente, Uhren und elektronische Bauteile.
865 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Sturt, Clifford Mark
London, Großbritannien
883
Patente gesamt
28
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte