Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle einer Laserstruktur
EP1172905
Art A1
16. Januar 2002
Anmelder: INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM VZW, Universiteit Gent 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1172905
- Aktenzeichen
- EP01870155
- Anmeldetag
- 6. Juli 2001
- Veröffentlichung
- 16. Januar 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01S5/0625H01S5/0683
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM VZW
Universiteit Gent - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
Ghent University
Belgische Universität in Gent, betreibt Lehre und Forschung in einem breiten Spektrum wissenschaftlicher und technischer Disziplinen.
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Fachgebiete
Vertreten von
Van Malderen, Joëlle
Liège, Belgien
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