Verfahren zur Detektion von Fehlern und Vorrichtung dafür
EP1174707
Art A1
23. Januar 2002
Anmelder: Nidek Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1174707
- Aktenzeichen
- EP01115941
- Anmeldetag
- 29. Juni 2001
- Veröffentlichung
- 23. Januar 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/956G01R31/311
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nidek Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nidek
Nidek ist ein japanischer Hersteller ophthalmologischer Geräte, etwa für Diagnostik und Laserbehandlung am Auge. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Werkzeug-, Fertigungs- und Drucktechnik sowie Optik und Fototechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.
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Vertreten von
Weber, Joachim
München, Deutschland
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