Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Retikeln mit Paralleler Verarbeitung

EP1175660 Art B1 3. Januar 2007

Anmelder: KLA-Tencor Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1175660
Aktenzeichen
EP00928494
Anmeldetag
28. April 2000
Veröffentlichung
3. Januar 2007
Erteilung
3. Januar 2007
Rechtsraum
EP
IPC
G06T7/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KLA-Tencor Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

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