Verfahren zur kontinuierlichen Bestimmung der optischen Schichtdicke von Beschichtungen
EP1178281
Art B1
7. Juni 2006
Anmelder: Leybold Optics GmbH, Balzers Leybold Optics GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1178281
- Aktenzeichen
- EP00116919
- Anmeldetag
- 5. August 2000
- Veröffentlichung
- 7. Juni 2006
- Erteilung
- 7. Juni 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leybold Optics GmbH
Balzers Leybold Optics GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
Fachgebiete
Vertreten von
Hebing, Norbert
Bad Nauheim, Deutschland
195
Patente gesamt
28
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Schlagwein, Udo, Dipl.-Ing
NoneBad Nauheim