Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle von Lotpastenschichten auf Substraten

EP1181535 Art B1 21. März 2007

Anmelder: Speedline Technologies, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1181535
Aktenzeichen
EP00928798
Anmeldetag
3. Mai 2000
Veröffentlichung
21. März 2007
Erteilung
21. März 2007
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/956H05K13/08H05K3/12B23K3/08
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Speedline Technologies, Inc.
Land
🇺🇸 USA

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Vertreten von
Grey, Ian Michael Venner Shipley LLP London, Großbritannien
1.421
Patente gesamt
32
Fachgebiete
30
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Medizintechnik & Gesundheit Halbleiter & Elektrische Bauelemente Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik Verpackungs- & Fördertechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Zum Anwaltsprofil
Kanzlei
Venner Shipley LLP

Venner Shipley entstand 1947 aus einer Patentagentur der 1930er-Jahre; durch Fusionen reichen ihre Wurzeln bis in die 1880er zurück. Als europäische Full-Service-IP-Kanzlei ist sie neben Großbritannien auch in Madrid und München vertreten.

31.248
Patente gesamt
40
Patentanwälte
6
Standorte
Weitere Vertreter

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