Inspektionsverfahren und -vorrichtung durch Sinterung

EP1182460 Art B1 9. November 2005

Anmelder: TOKYO ELECTRON LIMITED, Suga, Tadatomo, Itoh, Toshihiro 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1182460
Aktenzeichen
EP01119644
Anmeldetag
21. August 2001
Veröffentlichung
9. November 2005
Erteilung
9. November 2005
Rechtsraum
EP
IPC
G01R1/067
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
TOKYO ELECTRON LIMITED
Suga, Tadatomo
Itoh, Toshihiro
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Tokyo Electron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.

6.250 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen