Verfahren zum Testen eines Mikrocontrollers durch eine externe Testvorrichtung
EP1182555
Art B1
29. August 2012
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1182555
- Aktenzeichen
- EP01118167
- Anmeldetag
- 26. Juli 2001
- Veröffentlichung
- 29. August 2012
- Erteilung
- 29. August 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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Fachgebiete
Vertreten von
Jannig, Peter
Augsburg, Deutschland
121
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10
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