Messverfahren und Vorrichtung mit Verwendung der Abgeschwächten Totalreflektion

EP1186881 Art A1 13. März 2002

Anmelder: FUJIFILM Corporation, FUJI PHOTO FILM CO., LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1186881
Aktenzeichen: EP01914168
Anmeldetag: 14. März 2001
Veröffentlichung: 13. März 2002
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/55G01N35/04

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: FUJIFILM Corporation
FUJI PHOTO FILM CO., LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

12.204 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von