Methode und Justagemessung an einem Latenten Gitterstrukturbild
EP1188184
Art A2
20. März 2002
Anmelder: NXP B.V., Philips Semiconductors Inc., Koninklijke Philips Electronics N.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1188184
- Aktenzeichen
- EP00991441
- Anmeldetag
- 29. Dezember 2000
- Veröffentlichung
- 20. März 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66H01L23/544G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NXP B.V.
Philips Semiconductors Inc.
Koninklijke Philips Electronics N.V. - Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
7.818 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Schouten, Marcus Maria
Eindhoven, Niederlande
3.201
Patente gesamt
30
Fachgebiete
16
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
van der Veer, Johannis Leendert
NoneEindhoven
-
Pennings, Johannes
NoneEindhoven
-
Duijvestijn, Adrianus Johannes
NoneEindhoven
-
Cobben, Louis Marie Hubert
NoneEindhoven