Methode zur Herstellung einer mehrschichtigen Fotomaske mittels Zweilagen-Resist, sowie eine Phasenschieber-Mehrschichtenmaske

EP1189110 Art A3 28. August 2002

Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha, SHARP KABUSHIKI KAISHA 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1189110
Aktenzeichen
EP01307845
Anmeldetag
14. September 2001
Veröffentlichung
28. August 2002
Rechtsraum
EP
IPC
G03F1/00G03F1/14
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Sharp Kabushiki Kaisha
SHARP KABUSHIKI KAISHA
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

19.779 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen