Herstellungsverfahren für Spitzen und Probenköpfe von STM's oder AFM's

EP1191331 Art B1 24. Februar 2016

Anmelder: IMEC, INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM VZW 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1191331
Aktenzeichen
EP01870192
Anmeldetag
5. September 2001
Veröffentlichung
24. Februar 2016
Erteilung
24. Februar 2016
Rechtsraum
EP
IPC
B82Y35/00G01Q70/06G01Q70/16
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
IMEC
INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM VZW
Land
🇧🇪 Belgien
🇧🇪 imec

Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.

2.629 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen