Verfahren und Vorrichtung zum Auffinden eines Referenzmusters in einem seriellen digitalen Datenstrom
EP1191435
Art B1
12. April 2006
Anmelder: Tektronix Berlin GmbH & Co. KG, Tektronix, Inc. 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1191435
- Aktenzeichen
- EP00120747
- Anmeldetag
- 22. September 2000
- Veröffentlichung
- 12. April 2006
- Erteilung
- 12. April 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F7/02G06F1/035
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tektronix Berlin GmbH & Co. KG
Tektronix, Inc. - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Schurack, Eduard F
München, Deutschland
299
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