Verfahren zur Bestimmung der Strahlenbeständigkeit von Kristallen

EP1197477 Art A1 17. April 2002

Anmelder: Schott AG, SCHOTT AG, Schott Glas, CARL-ZEISS-STIFTUNG trading as Schott Glas 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1197477
Aktenzeichen
EP01124674
Anmeldetag
9. Oktober 2001
Veröffentlichung
17. April 2002
Rechtsraum
EP
IPC
C03C4/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Schott AG
SCHOTT AG
Schott Glas
CARL-ZEISS-STIFTUNG trading as Schott Glas
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 SCHOTT

Deutsches Technologieunternehmen mit Sitz in Mainz, spezialisiert auf Spezialglas und Glaskeramik für Pharma-, Optik-, Elektronik- und Haushaltsanwendungen.

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