Verbesserte Verfahren zur Kompensation der Nichteinheitlichkeiten von Infrarotdetektorenmatrixen
EP1198951
Art A1
24. April 2002
Anmelder: RAYTHEON COMPANY, Raytheon Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1198951
- Aktenzeichen
- EP00941738
- Anmeldetag
- 26. Juni 2000
- Veröffentlichung
- 24. April 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04N5/217H04N5/33
Abstract
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Anmelder
- Firmen
- RAYTHEON COMPANY
Raytheon Company - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Thach, Tum
Issy-Les-Moulineaux, Frankreich
27
Patente gesamt
14
Fachgebiete
2
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-
Patry, Didier Marcel Pierre
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