Zerstörungsfreies Inspektionsverfahren
EP1202069
Art B1
29. Dezember 2004
Anmelder: NEC Electronics Corporation, NEC CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1202069
- Aktenzeichen
- EP01125239
- Anmeldetag
- 24. Oktober 2001
- Veröffentlichung
- 29. Dezember 2004
- Erteilung
- 29. Dezember 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/265H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NEC Electronics Corporation
NEC CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
19.509 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
von Samson-Himmelstjerna, Friedrich
München, Deutschland
500
Patente gesamt
30
Fachgebiete
14
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Schwerpunkte
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