Herstellung von einer Testkarte

EP1202337 Art B1 14. Juni 2006

Anmelder: NEC Electronics Corporation, NEC CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1202337
Aktenzeichen
EP01125135
Anmeldetag
23. Oktober 2001
Veröffentlichung
14. Juni 2006
Erteilung
14. Juni 2006
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/66
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
NEC Electronics Corporation
NEC CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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