Infrarotbilddarstellung von Defekten unter der Oberfläche von (ultra)schallangeregten Materialien
EP1214588
Art B1
13. April 2011
Anmelder: WAYNE STATE UNIVERSITY, Wayne State University 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1214588
- Aktenzeichen
- EP00963516
- Anmeldetag
- 15. September 2000
- Veröffentlichung
- 13. April 2011
- Erteilung
- 13. April 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N29/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- WAYNE STATE UNIVERSITY
Wayne State University - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Wayne State University
Die Wayne State University ist eine staatliche Universität in Detroit, Michigan, mit breiter medizinischer und naturwissenschaftlicher Forschung. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und organische Chemie, ergänzt um Mess- und Prüftechnik sowie Pharma und Biotechnologie. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.
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