Methode zur Korrektur einer Photomaske, sowie Methode zur Herstellung eines Halbleiterelements

EP1229385 Art B1 29. September 2004

Anmelder: Kabushiki Kaisha Toshiba, DAI NIPPON PRINTING CO., LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1229385
Aktenzeichen
EP02001992
Anmeldetag
5. Februar 2002
Veröffentlichung
29. September 2004
Erteilung
29. September 2004
Rechtsraum
EP
IPC
G03F1/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Kabushiki Kaisha Toshiba
DAI NIPPON PRINTING CO., LTD.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Toshiba

Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.

13.647 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Dai Nippon Printing

Japanisches Unternehmen der Druckindustrie mit Sitz in Tokio, das sich über klassische Druckerzeugnisse hinaus in Elektronikmaterialien, Displaykomponenten und Verpackungslösungen diversifiziert hat.

3.002 Patente in unserer Datenbank

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