Verfahren und Vorrichtung zur Diagnose von Beeinträchtigungen in Kommunikationssystemen
EP1232636
Art B1
2. Juni 2010
Anmelder: TOKYO ELECTRON LIMITED, Tokyo Electron Limited, Voyan Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1232636
- Aktenzeichen
- EP00977132
- Anmeldetag
- 10. November 2000
- Veröffentlichung
- 2. Juni 2010
- Erteilung
- 2. Juni 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04B3/32H04M1/24H04L12/24// H04L25/02H04M3/22H04M3/24H04M3/30H04B3/46H04Q3/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TOKYO ELECTRON LIMITED
Tokyo Electron Limited
Voyan Technology - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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Fachgebiete
Vertreten von
Wombwell, Francis
Birkenhead, Großbritannien
789
Patente gesamt
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Fachgebiete
18
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