Abtastende Raster-Mikroskop-Sonde und Verfahren zur Herstellung Derselben, sowie ein Raster-Mikroskop Einschliesslich Dieser Sonde und ein Polymer-Verarbeitungsverfahren zur Verwendung Derselben
EP1233259
Art A1
21. August 2002
Anmelder: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1233259
- Aktenzeichen
- EP01967769
- Anmeldetag
- 20. September 2001
- Veröffentlichung
- 21. August 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N13/16G12B21/08G12B21/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Panasonic
Japanischer Konzern, der Haushaltsgeräte, Unterhaltungselektronik, Batterien sowie Komponenten und Lösungen für Industrie und Automobilbau entwickelt und herstellt.
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Fachgebiete
Vertreten von
Marx, Lothar
München, Deutschland
69
Patente gesamt
26
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5
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