Verfahren zur Bestimmung der Lage einer Schattenlinie auf einem photoempfindlichen Matrixsensor und Refraktometer, welches dieses Verfahren anwendet
EP1236993
Art B1
15. Dezember 2004
Anmelder: Reichert, Inc., Leica Microsystems Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1236993
- Aktenzeichen
- EP02100152
- Anmeldetag
- 19. Februar 2002
- Veröffentlichung
- 15. Dezember 2004
- Erteilung
- 15. Dezember 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/43
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Reichert, Inc.
Leica Microsystems Inc. - Land
- 🇺🇸 USA
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
949 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Wise, Stephen James
Glasgow, Großbritannien
189
Patente gesamt
26
Fachgebiete
13
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Reichert, Werner F., Dr
NoneWetzlar