Verfahren zur Herstellung einer elektronenmikroskopischen Probe zur Analyse eines Halbleiterbauelements
EP1241705
Art A1
18. September 2002
Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha, Masuoka, Fujio, SHARP KABUSHIKI KAISHA 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1241705
- Aktenzeichen
- EP02251815
- Anmeldetag
- 14. März 2002
- Veröffentlichung
- 18. September 2002
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Sharp Kabushiki Kaisha
Masuoka, Fujio
SHARP KABUSHIKI KAISHA - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sharp
Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.
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Brown, Kenneth Richard
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