Probenuntersuchungsverfahren für die Rasterkraftmikroskopie und Rasterkraftmikroskop
EP1244113
Art A3
3. Mai 2006
Anmelder: JEOL LTD., Jeol Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1244113
- Aktenzeichen
- EP02252004
- Anmeldetag
- 20. März 2002
- Veröffentlichung
- 3. Mai 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G12B21/08G12B21/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JEOL LTD.
Jeol Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
520 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Cross, Rupert Edward Blount
London, Großbritannien
2.091
Patente gesamt
33
Fachgebiete
17
Anmelder-Länder
Schwerpunkte